工艺质量与选型 影像测量小孔阵列,光源会影响边缘识别 影像测量小孔阵列,光源会影响边缘识别,从现场做法、测量复核和异常处理几方面说明,影像测量的检验先别只看报告收尾一行。很多争议来自孔边识别偏差,检验人员和加工人员要先把基准说到同一个位置。遇到这种零件,··· 2025-06-04 61阅读 方舟数控技术网