影像测量小孔阵列,光源会影响边缘识别 工艺质量与选型

影像测量小孔阵列,光源会影响边缘识别

影像测量小孔阵列,光源会影响边缘识别,从现场做法、测量复核和异常处理几方面说明,影像测量的检验先别只看报告收尾一行。很多争议来自孔边识别偏差,检验人员和加工人员要先把基准说到同一个位置。遇到这种零件,···